《RTI》 는 위험한 X-선 스캐너를 대체하기 위한 테라헤르츠 탐지기를 개발

이고르 베브쥬크

《RTI》 는 위험한 X-선 스캐너를 대체하기 위한 테라헤르츠 탐지기를 개발

http://itar-tass.com/armiya-i-opk/1669041

모스크바, 12월 24일. /타스/. 회사 《RTI》 는 "광학적으로 불투명한 환경을 뚫고 보여줄" 테라헤르츠 파장 기술을 적용한 탐지기를 제작하고 있습니다. 회사 총재 대리 이고르 베브쥬크가 타스에 전했습니다.

"테라헤르츠는 벽, 옷을 통과하여, 광학적으로 불투명한 것을 관통하여 보여줄 것입니다. - 베브쥬크가 말했습니다 - 새로운 장치는 특히, 공항에서 사람들의 검사에 이용될 수 있습니다."

이러한 기술은, 소비자권리보호감독청에 따르면, 암 유발 위험을 증가시키는 X선을 사용하는 스캐너를 대체할 수 있습니다.

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